千层浪视频app下载安装

DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀 DSP-STC2258

DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。


機械特性


DSP-STC2258型多功能數字式四探針測試儀

一、概(gai)述

     DSP-STC2258型多功能數字(zi)式四(si)探(tan)針(zhen)測(ce)試(shi)儀是運用四(si)探(tan)針(zhen)測(ce)量原理測(ce)試(shi)電阻(zu)率(lv)(lv)/方阻(zu)的多用途綜合(he)測(ce)量儀器(qi)。該儀器(qi)設計符合(he)GB/T 1551-2009 《硅單(dan)(dan)晶電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單(dan)(dan)晶電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)定直(zhi)流兩探(tan)針(zhen)法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單(dan)(dan)晶電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)定直(zhi)流四(si)探(tan)針(zhen)法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 
      儀器成(cheng)套組成(cheng):由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成(cheng)。 
主(zhu)機主(zhu)要由精密恒流源、高分辨(bian)率(lv)ADC、嵌(qian)入式單片機系統組成。儀(yi)器所有參(can)數(shu)(shu)(shu)設定、功(gong)(gong)能(neng)轉(zhuan)換全(quan)(quan)部采用數(shu)(shu)(shu)字化(hua)鍵盤輸入;具有零(ling)位、滿(man)度自校功(gong)(gong)能(neng);電(dian)壓電(dian)流全(quan)(quan)自動轉(zhuan)換量程;測(ce)試(shi)結果由數(shu)(shu)(shu)字表頭直接顯示。本測(ce)試(shi)儀(yi)特贈設測(ce)試(shi)結果分類功(gong)(gong)能(neng),*大分類10類。 
      探(tan)頭(tou)選配(pei):根據不同材(cai)料(liao)(liao)特性需要,探(tan)頭(tou)可(ke)有(you)(you)多款選配(pei)。有(you)(you)高耐磨碳(tan)化鎢探(tan)針探(tan)頭(tou),以測試硅類(lei)半導(dao)(dao)體、金(jin)屬(shu)(shu)、導(dao)(dao)電塑料(liao)(liao)類(lei)等硬質材(cai)料(liao)(liao)的(de)電阻(zu)(zu)率/方阻(zu)(zu);也有(you)(you)球形鍍金(jin)銅(tong)合金(jin)探(tan)針探(tan)頭(tou),可(ke)測柔性材(cai)料(liao)(liao)導(dao)(dao)電薄(bo)膜、金(jin)屬(shu)(shu)涂層(ceng)或(huo)薄(bo)膜、陶瓷(ci)或(huo)玻璃(li)等基底上導(dao)(dao)電膜(ITO膜)或(huo)納米涂層(ceng)等半導(dao)(dao)體材(cai)料(liao)(liao)的(de)電阻(zu)(zu)率/方阻(zu)(zu)。換(huan)上四(si)端(duan)子測試夾(jia)具,還(huan)可(ke)對電阻(zu)(zu)器(qi)體電阻(zu)(zu)、金(jin)屬(shu)(shu)導(dao)(dao)體的(de)低、中值(zhi)電阻(zu)(zu)以及(ji)開關類(lei)接觸(chu)電阻(zu)(zu)進行測量。配(pei)專用探(tan)頭(tou),也可(ke)測試電池極片等箔上涂層(ceng)電阻(zu)(zu)率方阻(zu)(zu)。 
      測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)選(xuan)配(pei):一般四(si)探(tan)針法測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)阻(zu)率/方(fang)阻(zu)配(pei)SZT-A或(huo)SZT-B或(huo)SZT-C或(huo)SZT-F型(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)。二探(tan)針法測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)阻(zu)率測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)選(xuan)SZT-K型(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai),也可選(xuan)配(pei)SZT-D型(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)以測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)半導體粉(fen)末電(dian)阻(zu)率,選(xuan)配(pei)SZT-G型(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)橡塑材料電(dian)阻(zu)率。詳見《四(si)探(tan)針儀器、探(tan)頭(tou)和測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)的(de)特點與選(xuan)型(xing)參考(kao)》 
      儀器(qi)具有測(ce)量(liang)精度高、靈敏(min)度高、穩定(ding)性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等(deng)特點。 
      儀器適用于半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)(cai)料廠器件廠、科(ke)研(yan)單位、高等院校對導(dao)體(ti)、半(ban)導(dao)體(ti)、類(lei)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)(cai)料的導(dao)電性能的測試。 
 
二、基本技術參數
1. 測(ce)量范圍、分辨率(lv)(括號(hao)內為(wei)可向(xiang)下拓展1個數量級) 
    電    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10 Ω,    分辨率0.1×10-~ 0.01×103 Ω) 
    電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方塊電阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10 Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω/□) 
2. 材(cai)料尺寸(由(you)選(xuan)配(pei)測(ce)試臺和測(ce)試方(fang)式決定(ding)) 
    直    徑(jing): SZT-A圓測試臺直接測試方式(shi) Φ15~130mm,手持方式(shi)不限 
    SZT-B/C/F方(fang)測試(shi)(shi)臺直接測試(shi)(shi)方(fang)式(shi)180mm×180mm,手持方(fang)式(shi)不限. 
     長(高)度:  測(ce)試臺直接測(ce)試方(fang)式(shi) H≤100mm,    手持方(fang)式(shi)不限. 
     測(ce)量方位:  軸向、徑向均可(ke) 
3. 量程劃分及誤差等級 
滿度顯示
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
常規量程
kΩ-cm/□
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
---
*大拓展(zhan)量程
---
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
mΩ-cm/□
基(ji)本(ben)誤(wu)差
±2%FSB
±4LSB
±1.5%FSB
±4LSB
±0.5%FSB±2LSB
±0.5%FSB
±4LSB
±1.0%FSB
±4LSB
 
3.工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
4.外形尺寸: 245mm(長(chang))×220 mm(寬(kuan))×95mm(高)  
   凈(jing)   重:≤1.5~2.0kg 




機械規格



裝配一覽表


相關產品


服務(wu)熱線

咨詢(xun)電話(hua): 0755-28909182 13824381687

官方(fang)微信(xin)